一、概況
環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展，環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實施，這就需要有*，性能合格的試驗設(shè)備，而要達到這一要求，就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標準，以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標準。
二、環(huán)境試驗設(shè)備標準
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標準共有九項：
GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB10588-89長霉試驗箱技術(shù)條件
GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10590-89低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10591-89高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件
GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件
GB11159-89低氣壓試驗箱技術(shù)條件
2、設(shè)備標準中的共性問題
適應(yīng)性
按設(shè)備標準檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標準中對試驗設(shè)備的要求，按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
操作性
設(shè)備標準在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標準在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項
對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項
溫度：15℃~35℃；相對濕度：不大于85%RH；
大氣壓強：86Kpa~106Kpa；
熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射；
氣流：無強烈氣流，需要時不可直接吹到箱體上；
電磁場：無強烈電磁場；
三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)；
冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa；
加濕水源：電阻率不低于500Ωm；
電源：220±22V、380±38V、50±0.5Hz；
三、環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準（氣候試驗設(shè)備）
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準共有六項：
GB/T5170.2－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170.8－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
GB/T5170.9－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T5170.10－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T5170.11－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
四、設(shè)備極其參數(shù)檢定標準與試驗方法標準的對應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標準是一種產(chǎn)品標準對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標準。
2、根據(jù)試驗方法要求，對設(shè)備進行周期檢定時，可選用一個或多個檢定方法標準對試驗設(shè)備進行檢定。
五、進行環(huán)境試驗過程中的幾個注意點
1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
2、注意受試品的體積、重量及擋風橫截對設(shè)備主性能的影響
3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件
4、適當選擇試驗的嚴酷度
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